分片常数电导率的剥层重构法

分片常数电导率的剥层重构法

论文摘要

EIT问题是通过测量物体边界上的电压和电流值,重构其内部的电导率信息,可用两种映射来建立电压和电流二者之间的关系:电压-电流映射(DtN映射)和电流-电压映射(NtD映射),因此,EIT的数学模型是:根据给定的DtN映射或NtD映射的信息,去恢复电导率方程▽·(σ(r)▽u(r))=0.中包含的参数σ(r)。剥层法是一种直接的近似重构电导率的非线性方法,算法的基本思想是:首先利用边界的测量数据得到表层上的电导率,然后利用Riccati方程将此信息用以估计下一层的电位分布,重复执行上述过程,逐层深入的得到电导率的分布。

论文目录

  • 提要
  • 第一章 关于EIT的介绍
  • §1.1 EIT的发展
  • §1.2 EIT的数学模型
  • §1.3 EIT的重建算法
  • 第二章 剥层法的理论分析
  • §2.1 边界电导率的重构
  • §2.2 内层数据的处理
  • 第三章 算法的描述与实现
  • §3.1 算法的描述
  • §3.2 数值实验
  • 参考文献
  • 中文摘要
  • Abstract
  • 致谢
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