论文摘要
近年来,由于电路规模不断增大和集成度不断提高,使得超大规模集成电路(VLSI)变得越来越复杂,而设计过程又难以保证逻辑设计的正确性。同时集成电路设计时的差错所带来的损失巨大,当前没有修复芯片的技术不可能对VLSI中的错误部分进行修正。因此,设计和建立高可靠性的集成电路系统成为一个关键问题。验证作为一个的保证设计正确的重要环节,正发挥着越来越重要的作用,并引起人们越来越多的关注和兴趣。本课题在GSTE理论的基础上,研究抽象以及细化处理在该理论上的应用,希望解决由抽象所带来的效率以及验证精确性的统一问题。通过变量划分技术,对变量集有区别的进行抽象以有效表示状态空间;为有效地表示相关变量的状态集,使用参数化表示将状态空间进行压缩化处理,并利用BDD技术实现GSTE理论验证算法。由于当前形式化验证方法基于状态搜索的处理方法,因此存在处理能力有限的问题,而不能验证大规模的电路系统。当前大部分形式化验证工具都引入了抽象与细化处理,来解决状态爆炸的问题。在研究方法上,首先,本文讲述了为解决状态爆炸问题而产生的形式化验证方法,简要分析了它们的验证思想以及存在的问题。其次,讲了形式化验证方法如何对验证电路进行建模,并重点介绍当前主要的形式化验证方法:STE和GSTE,并且对电路模型的定义,验证规范的描述以及验证算法进行分析,同时针对它们验证模拟的原理和方法,分析其优缺点,并对它们进行对比分析。进一步了解了抽象处理的方法以及对电路的符号化处理技术,同时分析了GSTE的抽象处理以及细化处理的过程。在以上理论学习和分析的基础上,本文提出了基于GSTE的抽象处理以及状态参数化表示的改进算法,并在验证过程中对验证的性质进行变量的划分,只验证与断言相关的变量,有效地减少了状态数。在验证过程中引入参数化表示方法,可以对状态空间进行有效地表示,尽可能压缩状态空间并使用BDD来实现GSTE验证算法。通过这些技术有效提高了GSTE模拟验证的处理能力以及它的验证效率。
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相关论文文献
- [1].电路并发性质在GSTE中的研究和实现[J]. 微电子学与计算机 2013(06)
- [2].基于GSTE的验证在UART模块中的应用研究[J]. 微电子学与计算机 2013(09)