论文摘要
鉴于当前所制备ZnO材料的质量还达不到器件级水平,尤其是p型掺杂问题没有得到很好地解决,以及制作得到的ZnO基发光器件效率过低等问题,本论文围绕MOCVD技术制备ZnO薄膜及其薄膜的相关特性展开深入研究,目的是得到高质量的ZnO外延薄膜及其发光器件。实验结果表明:利用正交试验设计法辅助优化MOCVD制备ZnO薄膜的生长条件,不仅可以减少实验次数,降低实验成本,还能够较快速的得到薄膜的最佳生长条件。研究还发现,合适温度生长的ZnO缓冲层可以有效地改善薄膜的结晶和发光质量。在ZnO薄膜的沉积过程中引入光辅助可以有效的改善薄膜的表面形貌、结晶质量和发光质量。适当强度的光辐照条件下还可以制得高阻和弱p型ZnO薄膜。利用NH3作为氮(N)掺杂源进行ZnO薄膜制备的过程中,首次发现适当强度的卤钨灯光辅助不仅可以改善薄膜的结晶质量,还有助于提高掺入到薄膜中的N相关受主的活性,实现了p型ZnO薄膜的制备。首次从实验角度分析得到通过热扩散法制备的磷(P)掺杂ZnO薄膜中,PZn-2VZn复合体缺陷是最主要的浅受主,其对ZnO薄膜的p型导电具有重要作用。首次在室温、电注入条件下测得了n-ZnO/p+-Si异质结从近紫外、可见光到近红外光波段的电致发光光谱,简要分析了其发光机制。
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