本文主要研究内容
作者黎鹏,阮江军,黄道春,欧阳子卿,王栋（2019）在《封闭容器内部短路燃弧特性及压力升试验分析》一文中研究指出：金属封闭开关设备内部短路电弧故障产生的高压效应对设备、建筑物以及工作人员的安全造成了巨大威胁。利用L–C振荡回路开展了不同间距下封闭容器内部短路燃弧试验,通过电流、弧压和压力升等测量数据,分析了封闭容器内部电弧的燃烧特性和压力升的变化规律。结果表明:随着容器内部压强的增大,弧压曲线的波动加剧;弧压有效值随电弧电流变化的随机性较大,随间距的增加而增大;弧阻随电弧电流的增大而减小,单位间隙长度的弧阻约为6 mΩ/cm;随着电弧能量的增大,压力升呈线性函数规律增大;引起容器内部压力上升的能量占电弧能量的比例系数kp约为45%,燃弧间距的影响较小;kp随电弧能量的增大有减小的趋势,并逐渐趋于稳定。
Abstract
jin shu feng bi kai guan she bei nei bu duan lu dian hu gu zhang chan sheng de gao ya xiao ying dui she bei 、jian zhu wu yi ji gong zuo ren yuan de an quan zao cheng le ju da wei xie 。li yong L–Czhen dang hui lu kai zhan le bu tong jian ju xia feng bi rong qi nei bu duan lu ran hu shi yan ,tong guo dian liu 、hu ya he ya li sheng deng ce liang shu ju ,fen xi le feng bi rong qi nei bu dian hu de ran shao te xing he ya li sheng de bian hua gui lv 。jie guo biao ming :sui zhao rong qi nei bu ya jiang de zeng da ,hu ya qu xian de bo dong jia ju ;hu ya you xiao zhi sui dian hu dian liu bian hua de sui ji xing jiao da ,sui jian ju de zeng jia er zeng da ;hu zu sui dian hu dian liu de zeng da er jian xiao ,chan wei jian xi chang du de hu zu yao wei 6 mΩ/cm;sui zhao dian hu neng liang de zeng da ,ya li sheng cheng xian xing han shu gui lv zeng da ;yin qi rong qi nei bu ya li shang sheng de neng liang zhan dian hu neng liang de bi li ji shu kpyao wei 45%,ran hu jian ju de ying xiang jiao xiao ;kpsui dian hu neng liang de zeng da you jian xiao de qu shi ,bing zhu jian qu yu wen ding 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自高电压技术的黎鹏,阮江军,黄道春,欧阳子卿,王栋，发表于刊物高电压技术2019年03期论文，是一篇关于开关设备论文,电弧故障论文,封闭容器论文,弧压论文,压力升论文,高电压技术2019年03期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自高电压技术2019年03期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。