论文摘要
本论文的研究目的是为新型复合式宽带EMI抑制元件的研制提供理论和实验依据。针对传统铁氧体抑制元件在实际应用中出现的频带窄、高频性能差问题,分别从结构和材料两方面入手提出了解决方案。首先,通过采用复合式结构展宽抑制元件频带。结合实际条件,分别提出低频阻抗复合宽带与高频插损复合宽带模型,并给出了模型的结构与等效电路。在对两模型的等效电路进行验证之后,对复合式元件的性能进行了实际测试,结果表明:低频阻抗复合宽带与高频插损复合宽带模型是合理的,从理论上分析了复合式元件能有效展宽频带,实现宽带功能。其次,通过制备新型材料解决高频性能差的问题。在分析了限制软磁合金高频应用的几个因素及解决对策之后,设计了合理的软磁合金复合材料制备工艺。通过微观形貌观察与复数磁导率测试,对不同制备阶段的样品进行了分析,研究了制备过程对磁性能的影响,优化了材料制备工艺。最终获得的软磁合金复合材料磁导率虚部μr″具有“双峰共振”宽带分布频率特征,高磁导率频宽达GHz,在1.2GHz频率处, μr″= 7.3 , μrmax″= 14.5。对比实验表明:软磁合金复合材料具有比传统铁氧体材料更优的高频磁性能;由该材料制成的元件在几百MHz以上的插损性能优于传统铁氧体材料抑制元件。此外,本论文还对元件的性能与材料参数的测试原理进行了详尽地分析,完善了磁导率测试“单圈电感模型”的理论推导。针对元件插损性能暂无测量标准的情况,建立了传输线插损测量装置,为材料评价与模型验证提供了条件。
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摘要Abstract第1章 绪论1.1 电磁干扰概述1.1.1 电磁干扰的来源1.1.2 电磁干扰的耦合途径1.2 线缆的电磁干扰问题1.2.1 线缆在电磁干扰中的作用1.2.2 解决线缆电磁干扰问题的技术1.3 铁氧体EMI 抑制元件的应用与研究动态1.3.1 铁氧体 EMI 抑制元件的应用1.3.2 铁氧体 EMI 抑制元件的研究动态1.4 本论文研究目的与主要内容1.4.1 研究目的1.4.2 本文研究内容第2章 材料电磁参数及抑制元件性能的测量方法2.1 复数磁导率与阻抗测量2.1.1 复数磁导率的物理含义2.1.2 测量设备2.1.3 测量原理2.2 高低频性能表征方法确定2.3 高频插损性能测试2.3.1 测试原理2.3.2 测试装置的建立2.3.3 测试方法2.4 本章小结第3章 低频阻抗复合宽带模型分析与验证3.1 引言3.2 传统EMI 抑制元件的应用分析3.2.1 元件应用等效电路3.2.2 元件作用原理分析3.3 低频阻抗复合模型3.3.1 模型的提出3.3.2 模型的结构3.4 复合模型的验证3.4.1 复合模型的等效电路3.4.2 复合模型等效电路的验证3.5 宽带元件对材料的要求3.6 本章小结第4章 高频高性能EMI 抑制材料的设计与制备4.1 引言4.2 高频EMI 抑制材料的设计4.2.1 抑制材料的特性4.2.2 限制软磁合金高频应用的因素及对策4.3 SCM 的制备4.3.1 SCM 制备工艺流程4.3.2 气雾化制粉设备与原理4.3.3 FeSiAl 雾化制粉4.3.4 扁平粉末的制备方法4.3.5 水玻璃基SCM 的制备4.3.6 热处理4.4 本章小结第5章 复合材料的显微结构与性能分析5.1 引言5.2 雾化粉末的显微结构与磁导率特性5.2.1 粉末合金成分5.2.2 雾化粉末显微结构与磁导率特性5.3 扁平化粉末微观形貌与磁导率特性5.4 SCM 的磁导率特性5.4.1 成型压力对磁导率的影响5.4.2 退火对磁导率的影响5.5 SCM 元件的插损性能5.6 本章小结第6章 高频插损复合宽带模型的分析与验证6.1 引言6.2 高频插损复合模型6.2.1 模型的提出6.2.2 模型结构6.3 复合模型的验证6.3.1 复合模型的等效电路6.3.1 复合模型等效电路验证6.4 本章小结结论参考文献攻读硕士学位期间所发表的论文致谢
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