论文摘要
随着集成电路和制造工艺的迅速发展,可以将越来越复杂的功能模块IP(Intellectual Property)核集成到单块芯片上,但功能模块的高度集成和测试资源的稀缺性,使得SoC (system-on-chip)芯片的测试也变得更为复杂?由于每个IP核的规模大小与其数据端口的数目都不一样,而测试总线的数目却一定,为了缩短SoC的测试时间,需在同一时间内尽可能对多个IP核进行并行测试,因此如何将IP核合理分配到不同带宽的测试总线上尤为关键?本文以获得芯片最短的测试时间按为切入点,就SoC测试调度的优化问题展开研究,设计了一种基于云量子进化算法的SoC测试优化方案文章首先研究了SoC测试的相关理论,并着重分析了已有的基于量子进化算法的SoC测试调度数学模型,量子进化算法具有优异的鲁棒性和并行性,能提高算法的寻优能力和最优解的搜索速度,但同时由于量子进化算法采用单一方向量子门进行种群的更新,依旧会使算法易陷于局部最优解?为更好的解决算法早熟问题,通过对新兴起的云模型理论进行研究,根据云模型中云滴具有良好的随机性和稳定倾向性,用云理论来对量子进化算法进行改进,设计了云量子进化算法,并建立其相应的SoC测试数学模型?在考虑功耗约束的条件下,对传统的功耗测试模型进行优化研究,以便能更好的实现SoC测试时间和测试功耗的协同优化?最后,以ITC 02 Test Benchmarks电路为实验对象进行仿真?实验结果表明在解决功耗约束下的SoC测试调度优化问题上,云量子进化算法与已有算法相比,具有更好的寻优能力,缩短了SoC的测试时间.
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摘要Abstract第一章 绪论1.1 课题的研究背景及意义1.2 国内外研究现状1.2.1 国外研究现状及发展趋势1.2.2 国内测试规划的研究现状1.3 本文主要研究工作1.3.1 研究的内容1.3.2 论文的结构第二章 SOC 测试的相关理论2.1 测试包封 Wrapper2.1.1 IEEE P1500 标准测试包封2.1.2 测试环包封原理2.2 测试访问机制TAM2.3 测试调度2.4 测试功耗2.5 本章小结第三章 功耗约束下SoC 测试调度数学模型3.1 SoC 测试调度数学模型3.2 功耗约束下的SoC 测试调度数学模型3.3 ITC‘02 Test Benchmark 电路分析3.4 本章小结第四章 云量子进化算法在SoC 测试调度优化中的应用研究4.1 云理论研究4.1.1 云的定义及应用范围4.1.2 云模型发生器4.2 量子进化算法的研究4.2.1 量子计算理论4.2.2 量子进化算法4.3 量子进化算法的SoC 测试应用研究4.3.1 多进制编码的量子进化算法4.3.2 QEA 在SoC 调度优化问题的应用4.4 云量子进化算法研究4.5 云量子进化算法的SoC 测试调度优化研究4.5.1 CQEA 的杂交和变异操作4.5.2 CQEA 的测试功耗优化4.6 本章小结第五章 基于云量子进化算法的SoC 测试调度优化实现5.1 量子进化算法对SoC 测试调度优化实现5.2 云量子进化算法对SoC 测试调度优化实现5.3 实验仿真参数设计和结果分析5.3.1 算法参数设计5.3.2 实验结果分析5.4 本章小结第六章 结束语6.1 本文的工作6.2 展望参考文献致谢作者在攻读硕士期间的主要研究成果
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标签:测试论文; 量子进化算法论文; 云模型论文; 功耗约束论文;