TFT-LCD显示面板制成工艺中的阵列缺陷检测方法研究

TFT-LCD显示面板制成工艺中的阵列缺陷检测方法研究

论文摘要

TFT-LCD显示面板的缺陷检测,是TFT-LCD显示面板制成工艺中的重要工艺。其中阵列缺陷检测在整体缺陷检测中占有极为重要的作用。该工艺是一种结合了SEM、FIB、老化等多种实验手段,以及薄膜特性分析、等效电路分析、光学、电学等多项技术的检测工艺,是TFT-LCD显示面板制成工艺中保障产品质量的重要手段。本文主要以第五代TFT-LCD显示面板制成工艺为基础,高世代TFT-LCD显示面板工艺为借鉴,对显示面板阵列缺陷测技术进行深入研究,对缺陷的类型、产生机理、检测方式,借助等效电路模型、实验设计、对比分析等手段,提出一套全面有效的检测方法,特别对生产中遇到的非常规缺陷的检测提出了创新的检测办法,并通过产品设计的改变达到更加有效的检测效率,使产品缺陷的检测更为准确,从而达到提高产品良率、改善产线效益的目的。本文中涉及的检测方法及专利改善均已适用于第五代TFT-LCD显示面板制成工艺,取得了较好的经济效益。从实际生产角度出发,填补了国内液晶面板制造行业阵列检测的空白,为TFT-LCD阵列缺陷检测领域的研究人士提供了一份较为完整的参考。

论文目录

  • 摘要
  • ABSTRACT
  • 目录
  • 第一章 绪论
  • 1.1 TFT-LCD发展史
  • 1.2 TFT-LCD产业现状
  • 第二章 TFT-LCD显示技术的特点及原理
  • 2.1 TFT-LCD显示技术的特点
  • 2.2 TFT-LCD的显示原理
  • 2.3 TFT-LCD制成工艺简介
  • 第三章 TFT-LCD工艺缺陷简介
  • 3.1 TFT-LCD工艺缺陷的产生及其影响
  • 3.1.1 阵列工艺缺陷简介
  • 3.1.2 成盒工艺缺陷简介
  • 3.1.3 彩膜缺陷简介
  • 3.2 TFT-LCD阵列缺陷深入研究
  • 第四章 TFT-LCD阵列缺陷检测
  • 4.1 TFT-LCD常规阵列缺陷的检测方法
  • 4.1.1 TFT-LCD阵列缺陷光学检测法
  • 4.1.2 TFT-LCD阵列缺陷Open-Short电场感应检测法
  • 4.1.3 TFT-LCD阵列缺陷的光电耦合成像检测法
  • 4.1.4 TFT-LCD阵列缺陷的电子束成像检测法
  • 4.1.5 TFT器件电学特性检测法
  • 4.2 TFT-LCD非常规缺陷的检测方法研究
  • 4.2.1 Slight Open型缺陷的检测
  • 4.2.2 Invisible型缺陷的检测
  • 4.2.3 外围电路缺陷的检测方法
  • 第五章 TFT-LCD阵列缺陷检测方法的改进
  • 5.1 ESS test改善及对TACT time改良的贡献
  • 5.2 通过改善TFT阵列基板检测电路设计改进检测方法
  • 5.3 阵列检测事故性缺陷的预防
  • 第六章 结束语
  • 致谢
  • 参考文献
  • 研究成果
  • 附录A
  • 相关论文文献

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