基于DSP的非接触薄膜厚度在线测量控制系统研究

基于DSP的非接触薄膜厚度在线测量控制系统研究

论文摘要

随着现代科学技术的发展,高速、高精度的在线检测技术越来越受到生产工程领域研究人员的关注,在线检测技术水平直接影响到生产线的效率、产品质量以及自动化程度。本课题就生产过程中高速、高精度的厚度在线检测系统进行了研究与实现,同时对厚度在线控制系统进行了研究与仿真分析。测量系统是整个系统的关键,只有测量准确才能实现系统的有效控制。本课题采用激光位移传感器进行厚度信号的检测,选用了TI公司的TMS320F2812DSP芯片作为硬件电路的微处理器,完成系统中的输入信号检测和系统的控制。本课题的测量系统主要完成以下工作:系统硬件电路设计以及排除各种干扰的措施;编写程序实现基本功能并选择有效的数字滤波方法;设计友好的用户操作界面。考虑了测量系统在生产应用中面临的实际情况,本论文设计了一些辅助功能,从而使整个测量系统可应用于实际生产。对调试过程中出现的问题进行了分析并制定相应解决方案,最终将其成功应用于电池极板生产过程中的薄膜厚度在线测量。控制系统可以提高生产线的自动化水平和产品质量。薄膜厚度测量控制系统是属于典型的大延时工业控制系统,因此对大延时系统的控制算法设计是研究本系统控制算法的核心。本文首先建立了系统模型,针对系统的大延时特点采用了几种有效的控制算法,并使用MATLAB工具对算法进行了仿真研究。其中,着重对模糊PID控制器进行了设计。最后给出了各个算法的仿真结果比较,考虑到薄膜测控系统的应用背景,确定了最适合本系统的控制算法。本课题研究的薄膜测控系统,具有测量精度高,稳定性好,操作简单使用方便等突出特点。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 第1章 绪论
  • 1.1 课题背景、研究的目的和意义
  • 1.2 测厚技术发展状况
  • 1.2.1 非在线测厚技术
  • 1.2.2 在线测厚技术
  • 1.3 本课题的国内外现状综述
  • 1.3.1 国外现状综述
  • 1.3.2 国内现状综述
  • 1.4 论文的主要研究内容
  • 第2章 薄膜测量系统的方案设计及工程实现
  • 2.1 薄膜测量系统的整体结构设计
  • 2.2 薄膜测量系统硬件电路的设计
  • 2.2.1 核心处理芯片外围电路设计
  • 2.2.2 系统电源的处理
  • 2.2.3 硬件滤波措施
  • 2.2.4 传感器和数据采样电路
  • 2.2.5 人机交互系统的设计
  • 2.2.6 伺服电机控制
  • 2.2.7 接近传感器
  • 2.3 测量系统上层软件的设计
  • 2.3.1 上层界面的软件设计
  • 2.3.2 数字滤波算法研究
  • 2.3.3 校正装置的设计与实现
  • 2.3.4 SPC校验规则设计
  • 2.3.5 数据导出接口设计
  • 2.3.6 测量极限位置自动滤除算法
  • 2.4 测量系统的调试与运行
  • 2.4.1 调试中遇到的主要问题
  • 2.4.2 测量系统运行情况
  • 2.5 本章小结
  • 第3章 控制系统建模与延时补偿算法
  • 3.1 系统控制模型的建立
  • 3.2 Smith-PID控制器
  • 3.2.1 Smith预估原理
  • 3.2.2 Smith预估器的设计与仿真
  • 3.3 基于Dahline算法的串联补偿控制器设计
  • 3.3.1 基于Dahline算法的串联补偿控制器原理
  • 3.3.2 基于Dahline算法的串联补偿控制器的设计与仿真
  • 3.4 本章小结
  • 第4章 模糊PID控制器的设计
  • 4.1 模糊控制器的工作过程
  • 4.2 模糊 PID 控制器的设计
  • 4.2.1 模糊PID控制器简介
  • 4.2.2 模糊PID控制器结构的确定
  • 4.2.3 模糊参数基本论域和隶属函数确定
  • 4.2.4 量化因子和比例因子的确定
  • 4.2.5 模糊控制规则的建立
  • 4.2.6 模糊决策与PID参数查询表
  • 4.2.7 模糊控制算法流程图
  • 4.3 模糊PID控制器仿真
  • 4.4 本章小结
  • 第5章 控制系统仿真结果分析
  • 5.1 实际工业生产环境介绍
  • 5.2 模型精确时的仿真结果
  • 5.3 模型失配时的仿真结果
  • 5.4 基于鲁棒性的控制算法选择
  • 5.5 干扰下的模糊PID控制系统输出
  • 5.6 本章小结
  • 结论
  • 参考文献
  • 致谢
  • 相关论文文献

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    • [9].金属薄膜厚度小于电子自由程对其光反射率的影响[J]. 光子学报 2011(02)
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    • [11].等厚干涉法测量薄膜厚度的两种方法[J]. 安徽师范大学学报(自然科学版) 2012(01)
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    • [21].一种提高薄膜厚度测量灵敏度的方法[J]. 材料开发与应用 2010(05)
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    • [24].迈克尔逊干涉仪测薄膜厚度特殊实验现象的分析与数据论证[J]. 吉林化工学院学报 2014(05)
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    • [30].基于NDIR的塑料薄膜厚度在线检测系统[J]. 现代电子技术 2016(11)

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