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存储器邻域模型敏感失效测试算法的改进

论文摘要

随着半导体技术的快速深入发展,随机存储器记忆体容量越来越大。随机存储器记忆体的测试验证需要越来越多可行的失效模型和有效的测试算法。邻域模型敏感失效是一种复杂的,消耗较长测试时间的失效类型。基于对存储器记忆体的邻域模型敏感失效模式的分析,本文提出了一种改进的测试算法,采用Tiling方法,按照一定的测试向量变化的顺序,通过读写操作实现邻域模型敏感失效的测试,可检测所有的三种第一型邻域模型敏感失效:静态型,被动型和主动型邻域模型敏感失效。较以往的测试算法具有更短的测试长度,是65.2倍存储器记忆体的容量比特数。测试实验结果证实这是一种比较高效的邻域模型敏感失效测试方法。

论文目录

  • 中文摘要
  • Abstract
  • 第一章 引言
  • 1.1 概述
  • 1.2 论文的组织
  • 第二章 相关的基本理论
  • 2.1 随机存储器基本架构与工作原理
  • 2.2 地址SCRAMBLING 和数据SCRAMBLING
  • 2.3 一般存储阵列的功能失效模式
  • 第三章 邻域模型敏感失效的基本理论
  • 3.1 邻域模型敏感失效
  • 3.1.1 概述
  • 3.1.2 静态型邻域模型敏感失效
  • 3.1.3 被动型邻域模型敏感失效
  • 3.1.4 主动型邻域模型敏感失效
  • 3.2 传统的邻域模型敏感失效测试算法
  • 3.2.1 Tiling 方法和Two Group 方法
  • 3.2.2 改进型多背景数据行进式算法
  • 3.2.3 综述
  • 第四章 提出改进算法
  • 4.1 改进算法的提出
  • 4.2 理论论证
  • 4.3 实验验证
  • 4.4 改进算法分析与小结
  • 第五章 结论
  • 参考文献
  • 攻读硕士学位期间公开发表的论文
  • 附录A
  • 附表B
  • 附录C

    • 相关论文文献

    本文来源: https://www.lw50.cn/article/4dd292e8c0cffbbd470923f6.html