程晓阳：基于STM32F103VB6的起重设备测试装置研究与实现论文

本文主要研究内容

作者程晓阳,刘夫贵,郭兆静（2019）在《基于STM32F103VB6的起重设备测试装置研究与实现》一文中研究指出：很多起重生产设备厂家需要对其产品进行功能性测试,但是目前市场上测试仪器相对简陋,测试功能单一,测试精度低,而且自身的安全性能差,自动化程度低。采用意法半导体STM32F103VB6的ARM芯片开发一款多功能智能起重设备测试仪,经现场实际运行,不仅大大提高了测试精度,而且提高了工作效率。

Abstract

hen duo qi chong sheng chan she bei an jia xu yao dui ji chan pin jin hang gong neng xing ce shi ,dan shi mu qian shi chang shang ce shi yi qi xiang dui jian lou ,ce shi gong neng chan yi ,ce shi jing du di ,er ju zi shen de an quan xing neng cha ,zi dong hua cheng du di 。cai yong yi fa ban dao ti STM32F103VB6de ARMxin pian kai fa yi kuan duo gong neng zhi neng qi chong she bei ce shi yi ,jing xian chang shi ji yun hang ,bu jin da da di gao le ce shi jing du ,er ju di gao le gong zuo xiao lv 。

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论文详细介绍

论文作者分别是来自工业控制计算机的程晓阳,刘夫贵,郭兆静，发表于刊物工业控制计算机2019年03期论文，是一篇关于起重设备论文,芯片论文,测试仪论文,工业控制计算机2019年03期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自工业控制计算机2019年03期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。

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