基于ADVANTEST的混合测试平台开发

论文摘要

半导体存储器作为现代数字系统的重要组成部分,在其生产过程中需要进行严格的测试。不同类型的半导体存储器由于内部结构以及工作原理的不同,需要通过不同的方法进行测试。所有的测试项目都是通过测试程序来实现。因此我们要求测试程序具有良好的测试覆盖率的同时能尽可能缩短测试时间,提高测试效率。优秀的测试平台能使测试程序开发更灵活迅速,更有利于工程师对测试程序进行开发维护。本文主要介绍半导体存储器的测试方法,基于ADVANTEST测试机台开发用于半导体存储器测试的混合测试平台。详细阐述混合测试平台架构、产品程序的共享、测试模板以及用户菜单功能。并以PSRAM为例,具体介绍基于混合测试平台的测试程序开发,体现基于混合测试平台开发测试程序的灵活与快捷,以及便于后期维护升级。

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摘要

ABSTRACT

第一章绪论

1.1 课题的意义及国内外研究现状综述

1.1.1 课题的来源及意义

1.1.2 IC 测试技术现状分析

1.1.3 存储器测试技术的发展现状

第二章半导体存储器

2.1 半导体存储器分类

2.1.1 RAM

2.1.2 ROM

2.1.3 闪存（Flash）

2.2 半导体存储器测试

2.3 本章小结

第三章 ADVANTEST 测试平台

3.1 ADVANTEST T53XX 测试系统

3.1.1 T53XX 硬件系统

3.1.2 T53XX 软件系统

3.2 ATL 测试程序

3.3 本章小结

第四章混合测试平台的实现

4.1 混合测试平台介绍

4.2 混合测试平台结构

4.2.1 程序语言

4.2.2 测试程序目录结构

4.2.3 测试程序执行流程

4.3 共享产品程序

4.3.1 创建编译选项

4.3.2 共享测试项

4.4 共享平台程序

4.4.1 测试模板的分类

4.4.2 测试模板的实现

4.5 用户菜单与失效分析

4.5.1 用户菜单的实现

4.5.2 创建PSRAM 产品子菜单

4.5.3 PSRAM 失效分析

4.5.4 提高失效分析工作效率

4.6 本章小结

第五章基于混合测试平台的测试程序开发

5.1 基于混合测试平台的测试程序开发

5.1.1 产品程序开发流程

5.1.2 混合测试平台优势

5.2 PSRAM AADMUX 测试程序开发

5.2.1 AADMUX 介绍

5.2.2 AADMUX 测试程序开发

5.2.3 提高测试程序开发效率

5.3 本章小结

第六章结论与展望

6.1 全文总结

6.2 主要结论

6.3 本文的不足与展望

参考文献

附录

致谢

攻读硕士学位期间已发表或录用的论文

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