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深亚微米集成电路的低功耗设计

论文摘要

工艺特征尺寸的日益减小使得集成电路在集成度和性能方面不断获得提高,但与此同时,系统复杂程度的提高以及各种移动设备的广泛使用,也使得电路功耗开始成为芯片设计发展的重要瓶颈之一。功耗不但直接影响芯片的封装形式与成本,而且过高的功耗将导致芯片温度的增加,直接决定着芯片的可靠性。此外,系统功耗的增加还将带来电迁移效应,电流密度增大等问题,使得芯片的稳定性进一步恶化,而这些影响反过来又会给电源供给的设计以及电路可靠性分析等诸多方面带来挑战。低功耗技术研究已显得越来越迫切,这些因素都迫使设计者越来越多地关注集成电路功耗的评估及优化方法的研究。文章首先阐述了本课题的研究背景,并对当前系统级芯片(SOC)低功耗技术的基础研究内容、主流的低功耗设计技术进行了总结。其后重点介绍了几种在标准单元中实现的低功耗方法,如用于多电源供给的电平转换器,带数据恢复的触发器以及体电压反偏置技术。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 第一章 引言
  • 一 研究背景和目的
  • 二 本文的内容安排
  • 第二章 低功耗设计方法分析
  • 一 CMOS集成电路功耗的物理源
  • 二 降低集成电路功耗的方法
  • 三 小结
  • 第三章 标准单元电路
  • 一 SoC的组织结构
  • 二 基于标准单元的ASIC设计
  • 三 CMOS标准单元的设计
  • 第四章 单电源的电平转换器
  • 一 电平转换器的低功耗需求
  • 二 电平转换器结构
  • 三 单电源供给结构
  • 四 两种电路的对比
  • 五 小结
  • 第五章 数据恢复电路
  • 一 数据恢复的目的
  • 二 数据恢复电路结构和工作原理
  • 三 小结
  • 第六章 体电压反偏置
  • 一 体电压反偏置的工作原理
  • 二 适用于体电压反偏置的标准单元库
  • 三 小结
  • 结论
  • 致谢
  • 参考文献
  • 相关论文文献

    本文来源: https://www.lw50.cn/article/efd2d464f18e185d35e36494.html