• 基于COB技术的多芯片模块可靠性研究

    基于COB技术的多芯片模块可靠性研究

    论文摘要微型化和集成化是电子产品发展的主要趋势,多芯片模块的高密度集成使其成为当前主流的封装形式。一方面,集成度的提高使热密度增大,容易因热膨胀不匹配导致热可靠性问题;另一方面...