板级测试论文

低测试成本芯片的ATE和板级测试研究
论文摘要随着集成电路水平的高速发展,芯片内部和I/O的速度越来越快,复杂的数模混合电路对测试覆盖率的要求也越来越高,而芯片规模的飞速发展,使得芯片测试的时间也成倍的上涨。为了保...
基于边界扫描技术的测试系统的研究与应用
论文摘要边界扫描技术作为一种标准的数字电路测试及可测试性设计方法,它以特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,能大大提高数字电路的可测试性。随着边界扫描芯片在电...