参数成品率论文

VLSI受工艺参数扰动影响的若干问题研究
论文摘要作为有史以来发展最为迅速的工业之一,半导体工业的进步使大规模集成电路的特征尺寸不断缩小、芯片集成度不断提高。如今,半导体芯片的规模已达到数亿晶体管,原来需要多个芯片共同...
集成电路参数成品率的预测与优化技术研究
论文题目:集成电路参数成品率的预测与优化技术研究论文类型:博士论文论文专业:微电子学与固体电子学作者:荆明娥导师:郝跃关键词:可制造性设计,成品率设计,参数成品率,全局扰动,容...