测试产生算法论文

时延故障测试产生算法与IDDT测试实验研究
论文摘要随着集成电路设计与加工技术的飞速发展，测试作为IC产业中一个极为重要的环节，变得越来越困难。特别是进入深亚微米发展阶段以来，通过集成各种IP核，系统级芯片的功能更加强大...