测试成本论文

低测试成本芯片的ATE和板级测试研究
论文摘要随着集成电路水平的高速发展,芯片内部和I/O的速度越来越快,复杂的数模混合电路对测试覆盖率的要求也越来越高,而芯片规模的飞速发展,使得芯片测试的时间也成倍的上涨。为了保...
基于遗传算法的软件测试资源分配问题研究
论文摘要随着软件行业在各个领域的广泛应用,人们对软件可靠性的要求不断提高。作为保障软件可靠性最重要的手段,软件测试所受到的关注也日益增加。投入更多的测试资源显然是提高软件测试产...
SoC低成本测试技术与实现方法研究
论文摘要测试已经成为系统芯片(SoC)设计过程中一个不可或缺的组成部分,而且随着芯片集成度和复杂度的不断提高,测试成本也随之增加。如果按照目前的发展趋势,测试成本将有可能超过芯...