测试复用论文

基于IP核测试复用的SoC测试结构研究与设计
论文摘要随着集成电路设计技术及制造工艺的不断发展,集成电路已进入了系统芯片（SoC）时代。与此同时,IP（IntellectualProperty,知识产权）核复用已经成为So...
数字电路的多种子内建自测试及测试复用研究
论文摘要随着集成电路技术的迅速发展,芯片的集成度越来越高,怎样对电路进行有效测试就显得越来越重要。本文首先介绍了数字电路测试的相关知识和可测性设计中的内建自测试的原理,用C语言...