测试功耗论文

基于三维结构的SoC低功耗测试技术研究
论文摘要随着超大规模集成电路集成度和复杂度的提高,尤其是互补金属氧化物半导体（ComplementaryMetalOxideSemiconductor,CMOS）器件进入纳米时...
低功耗内建自测试设计方法研究
论文题目:低功耗内建自测试设计方法研究论文类型:博士论文论文专业:微电子与固体电子学作者:李锐导师:时龙兴,陆生礼关键词:可测性设计,内建自测试,测试综合,测试功耗文献来源:东...