测试结构论文

基于IP核测试复用的SoC测试结构研究与设计
论文摘要随着集成电路设计技术及制造工艺的不断发展,集成电路已进入了系统芯片（SoC）时代。与此同时,IP（IntellectualProperty,知识产权）核复用已经成为So...
SiO2介质材料辐照损伤—噪声测试结构研究
论文摘要二氧化硅（SiO2）是集成电路（IC）中常用的介质材料,也是MOS器件及其IC中最易受辐照损伤的部位。为此,对SiO2介质材料辐照效应的研究将会保证MOS器件及其IC在...
静态随机存储器位单元与测试结构设计优化
论文摘要在摩尔定律的持续推动下,集成电路制造工艺的触角已经延伸至深亚微米领域,而作为逻辑工艺开发的重要辅助工具,嵌入式静态随机存储器(SRAM)以其极高的工艺缺陷覆盖率、可精确...