测试激励压缩论文

SoC低成本测试技术与实现方法研究
论文摘要测试已经成为系统芯片(SoC)设计过程中一个不可或缺的组成部分,而且随着芯片集成度和复杂度的不断提高,测试成本也随之增加。如果按照目前的发展趋势,测试成本将有可能超过芯...
数字电路测试压缩方法研究
论文题目:数字电路测试压缩方法研究论文类型:博士论文论文专业:计算机系统结构作者:韩银和导师:李晓维关键词:集成电路,系统芯片,测试激励压缩,测试响应压缩,扫描设计,自动测试向...