测试壳优化论文

基于IP核测试复用的SoC测试结构研究与设计
论文摘要随着集成电路设计技术及制造工艺的不断发展,集成电路已进入了系统芯片（SoC）时代。与此同时,IP（IntellectualProperty,知识产权）核复用已经成为So...