测试码产生论文

JX5芯片测试码的产生及故障模拟
论文摘要故障测试是集成电路设计流程中必不可少的环节。JX5芯片是一个全定制设计的芯片，该芯片的规模十分庞大，结构异常复杂，而且芯片整体逻辑描述包含了电路级、门级、RTL级以及存...