测试片段论文

基于片段间转移的低功耗测试结构研究与实现
论文摘要集成电路系统复杂度和工艺复杂度的增加,特别是片上系统(SOC)的出现,使得集成电路测试面临越来越多的挑战。在数字电路测试过程中,测试功耗要远远高于正常模式下的功耗。产生...