![基于扫描的低功耗测试方法研究]()
论文摘要随着半导体技术的发展,集成电路的复杂性越来越高,由此导致了测试数据量的不断增大、测试功耗的不断提高以及测试时间的持续增长,这都给集成电路测试带来了巨大的挑战,造成了测试...
![基于FSM的测试用例生成和测试优化]()
论文摘要随着软件复杂性的增长、软件不断向其它领域的渗透及对软件可靠性要求的增加,如何保证软件的质量和可信性变得越来越困难,相应的成本也不断增加。早期的研究表明测试成本已经占软件...
![高速互连串扰型故障测试研究]()
论文摘要随着电路系统向着规模极大化、工艺尺寸微小化、工作速度高速化和时钟频率高频化方向的快速发展,电路系统已经进入了高速电路系统时代。高速电路中互连线已经由简单传导特性向传输线...
![基于TTCN-3的移动IPv6协议一致性测试研究]()
论文摘要当今移动性已经成了互联网网络革新的关键驱动力,高速的带宽和移动世界为用户提供了新的网络服务。IPv6作为下一代的Internet互连协议,必须考虑到对移动通信方面的支持...
![电子功能模件边界扫描测试技术研究]()
论文摘要随着印制电路板功能日益增强,结构日趋复杂,传统的测试方法已经很难满足现在的测试需要。边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连...
![基于蚁群算法和粒子群算法的数字集成电路测试生成研究]()
论文摘要随着电子技术的发展,集成电路的规模越来越大,结构也越来越复杂,这使得数字电路的测试生成变得越发困难。近几年,仿生学算法的研究进展非常迅速,该类算法可以有效地解决组合优化...
![数字集成电路测试生成算法研究]()
论文摘要随着现代科技的快速发展,数字集成电路已经被广泛应用于各行各业,于此同时数字集成电路的测试问题也就越来越受到人们的重视。数字集成电路设计、生产、应用的各个必要阶段都离不开...
![网络移动IPv6协议一致性测试生成与实现]()
论文摘要IPv6协议重点考虑了移动问题,为了解决移动问题专门规定了若干机制。网络移动IPv6(NetworkMobility,NEMO)协议,主要是研究子网作为一个整体在全球互...
![VLSI高层测试生成方法的研究]()
论文摘要伴随着集成电路（IntegratedCircuit,简称IC）的飞速发展,大规模电路设计和复用方法的需要使得设计流程迅速转向高层描述,现在大多数设计都在寄存器传输级（R...
![集成电路多故障测试生成算法及可测性设计的研究]()
论文摘要集成电路被称为IC,是在硅板上集合多种电子元器件实现某种特定功能的电路模块,它是电子设备中最重要的部分,承担着运算和存储的功能。集成电路的应用范围覆盖了军工、民用几乎所...
![电路故障诊断可测性设计及低功耗测试研究]()
论文摘要过去几十年集成电路一直按照摩尔定律发展,其每个晶体管的制造成本呈现持续下降趋势,但每个晶体管的测试成本却基本保持不变,因此随着集成度的不断提高集成电路的总测试成本始终呈...
![集成电路寄存器传输级故障模型与测试生成研究]()
论文摘要随着集成电路设计技术的发展,其相应的测试也变得十分重要。测试生成为测试过程中的一个重要环节。本文首先综述了当前基于集成电路寄存器传输级（RegisterTransfer...
![时序电路测试生成算法研究]()
论文摘要为解决同步时序电路的测试难题,提高时序电路测试生成效率,本文进行了时序电路测试生成算法的研究。近年来,发展迅速的进化算法在组合优化等领域获得了广泛的应用,本文在对多种进...
![基于形式化方法的分布式协议互操作性测试研究]()
论文摘要大部分网络协议具有分布式特征,需要由分布在网络设备中的协议实现共同协作完成一定的协议功能。协议互操作性测试是保证位于不同网络设备上的协议实现之间正确互连和协作的重要手段...
