测试时间论文

低测试成本芯片的ATE和板级测试研究
论文摘要随着集成电路水平的高速发展,芯片内部和I/O的速度越来越快,复杂的数模混合电路对测试覆盖率的要求也越来越高,而芯片规模的飞速发展,使得芯片测试的时间也成倍的上涨。为了保...
Intel NOR闪存Class测试流程的优化与实现
论文摘要随着闪存的设计制造测试在中国的越来越普及,大规模制造厂在中国如雨后春笋般的涌出,在实际生产中的测试时间和成品率问题对成本的控制来说就尤为重要.在这里阐述了一个以Inte...