测试响应重用论文

SoC测试资源优化方法研究
论文摘要深亚微米工艺下IC规模和复杂度的日益增加，向SoC测试提出了严峻的挑战。现有的外部测试设备ATE在存储容量、测试通道数等测试资源方面满足不了测试需求，因而有必要研究So...