串扰避免论文

关于65nm数字集成电路后端设计中串扰避免及修复方式的研究及比较
论文摘要集成电路一直在迅猛发展。制造工艺由超深亚微米(VDSM)进入到纳米(nanometer)阶段;设计规模由超大规模(VLSI)、甚大规模(ULSI)向G规模集成(GSI)...