储存失效论文

本文主要研究内容作者王洪岩,吴英伟,路志爽（2019）在《电容近炸引信高频部件储存性能试验研究》一文中研究指出：对实际非密封储存2、4、6～12年的引信高频部件进行储存性能检测...