• 电迁移引起的微小尺寸无铅焊点的组织演化

    电迁移引起的微小尺寸无铅焊点的组织演化

    论文摘要随着电子封装互连焊点的尺寸越来越小,焊点内的电流密度越来越大,电迁移逐渐成为影响封装可靠性的关键问题之一引起广泛关注。电子制造工业中已经广泛采用无铅钎料代替SnPb共晶...