电容近炸引信论文

本文主要研究内容作者王洪岩,吴英伟,路志爽（2019）在《电容近炸引信高频部件储存性能试验研究》一文中研究指出：对实际非密封储存2、4、6～12年的引信高频部件进行储存性能检测...

本文主要研究内容作者王洪岩,齐杏林,吴英伟（2019）在《电容近炸引信铅酸电池长储试验及性能分析》一文中研究指出：针对电容近炸引信铅酸电池长储性能研究空白、性能变化不明确的问题...