电子结构相变论文

拓扑绝缘体化合物的高压下结构和性质研究
论文摘要利用原位高压同步辐射x射线衍射和高压下原位电性质测量，本论文进行了VVl族化合物拓扑绝缘体材料Bi2Te3、Sb2Te3和Bi2Se3高压下结构相变和性质研宄，同时也进...