低方阻论文

金属化薄膜电容器损耗的工艺研究
论文摘要本文通过对金属化薄膜电容器损耗的理论分析,建立损耗（金属部分）分析模型,确定了影响金属化薄膜电容器损耗的主要工艺因素,并以金属化薄膜电容器CL21-400V-0.1μF...