低功耗测试论文

基于片段间转移的低功耗测试结构研究与实现
论文摘要集成电路系统复杂度和工艺复杂度的增加,特别是片上系统(SOC)的出现,使得集成电路测试面临越来越多的挑战。在数字电路测试过程中,测试功耗要远远高于正常模式下的功耗。产生...
电路故障诊断可测性设计及低功耗测试研究
论文摘要过去几十年集成电路一直按照摩尔定律发展,其每个晶体管的制造成本呈现持续下降趋势,但每个晶体管的测试成本却基本保持不变,因此随着集成度的不断提高集成电路的总测试成本始终呈...
低功耗SoC测试技术及基于状态种子的BIST策略研究
论文摘要目前,集成电路测试面临两个大的问题:测试时间过长和测试功耗过高。而随着集成电路不断复杂化,测试变得更加困难。特别是对基于复用思想的SoC,虽然这种设计思想有利于减少设计...