多扫描链论文

基于扫描的低功耗测试方法研究
论文摘要随着半导体技术的发展,集成电路的复杂性越来越高,由此导致了测试数据量的不断增大、测试功耗的不断提高以及测试时间的持续增长,这都给集成电路测试带来了巨大的挑战,造成了测试...