高速测试论文

大规模存储器的高速并行测试解决方案
论文摘要集成电路制造技术工艺的发展和市场的庞大需求使得大容量高速存储器产量日益提升,相对应的为迎合市场的需求需要提供一种综合成本最低的测试解决方案。该方案包含了两个关键因素:高...