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基于CDV的随机测试技术
论文摘要随着大规模集成电路的发展,其设计规模不断增加,从几十万门级发展到百万、千万门级,完成相应的验证工作也变得越来越困难,给相应的验证工作带来了巨大的挑战。如何在有限的芯片开...