故障覆盖率论文

基于CCM3108的可测性设计研究
论文摘要随着集成电路的发展,芯片结构越来越复杂,传统的测试技术已经不能满足现代集成电路的测试要求,集成电路可测性设计技术应运而生。SOC芯片的可测性设计主要难点在于设计复杂,且...
FPGA芯片TILE单元建模以及故障覆盖率分析
论文摘要FPGA是目前运用广泛的一种可编程逻辑器件,FPGA的出现填补了ASIC在设计成本,设计周期上的缺陷。FPGA主要分为三个部分：逻辑资源结构、互连资源结构以及编程配置。...
Virtex型FPGA的测试理论和方法研究
论文摘要本文以Xilinx公司的Virtex型FPGA芯片为实例,研究基于SRAM架构的FPGA芯片的功能测试的测试理论和测试方法。在理论分析的基础上,针对FPGA中的各种功能...
JX5芯片测试码的产生及故障模拟
论文摘要故障测试是集成电路设计流程中必不可少的环节。JX5芯片是一个全定制设计的芯片，该芯片的规模十分庞大，结构异常复杂，而且芯片整体逻辑描述包含了电路级、门级、RTL级以及存...