海明距离论文

加权内建自测试（BIST）设计中的多目标优化技术研究
论文摘要随着数字系统的集成度和工艺复杂度的日益提高,数字系统内的器件测试变得越来越困难。由于内建自测试（Built-InSelf-Test,BIST）能在芯片内部完成自测试,使...
PIC12F509全速电流测试及自反馈测试研究
论文摘要集成电路测试技术是生产高性能集成电路和提高集成电路成品率的关键。随着集成电路制造技术的发展,电压测试和稳态电流测试方法已不能满足高性能集成电路的要求。90年代中期提出的...