行进式方法论文

存储器邻域模型敏感失效测试算法的改进
论文摘要随着半导体技术的快速深入发展,随机存储器记忆体容量越来越大。随机存储器记忆体的测试验证需要越来越多可行的失效模型和有效的测试算法。邻域模型敏感失效是一种复杂的,消耗较长...