混合边界扫描测试论文

基于IEEE1149.4的混合边界扫描测试技术研究
论文摘要随着科技的高速发展,集成电路的微型化,电子设备中大量使用数模混合电路的明显趋势,传统的测试手段已经无法满足电子设备的测试要求,自动测试和故障诊断已经成为产品成功与否的关...