集成电路测试论文

系统级芯片的可测性研究与实践
论文摘要随着集成电路设计与制造工艺的飞速发展,系统集成芯片(SOC,SystemonChip)技术受到了普遍重视。与此同时,SOC的测试问题由于多种功能的模块高度集成而显得特殊...
数字IC自动测试设备关键技术研究
论文摘要集成电路（IntegratedCircuit,IC）测试是集成电路产业的一个重要组成部分,它贯穿IC设计、制造、封装、应用的全过程。集成电路晶圆（WaferTest）测...
MEMS探卡的设计及制备工艺研究
论文摘要晶圆级IC测试在经济生产中是非常必要的,通过早期放弃有缺陷的元件部分,可以避免不必要的封装成本,同时,晶圆测试数据还提供了早期整体制造过程状况的反馈,以便及早检测到偏差...