寄存器传输级论文

基于静态分析的RTL设计错误检测方法研究
论文摘要近年来,随着数字集成电路工艺的迅速发展,芯片集成度的进一步提高,电路规模变得越来越大,复杂度也越来越高,其功能正确性也越来越受到人们的重视。然而,如何保证集成电路设计的...
VLSI高层测试生成方法的研究
论文摘要伴随着集成电路（IntegratedCircuit,简称IC）的飞速发展,大规模电路设计和复用方法的需要使得设计流程迅速转向高层描述,现在大多数设计都在寄存器传输级（R...
集成电路寄存器传输级故障模型与测试生成研究
论文摘要随着集成电路设计技术的发展,其相应的测试也变得十分重要。测试生成为测试过程中的一个重要环节。本文首先综述了当前基于集成电路寄存器传输级（RegisterTransfer...