界面陷阱论文

电荷泵浦的测量方法和遂穿晶体管的可靠性模拟
论文摘要半导体器件模拟工具通过数值计算,让我们以虚拟的方式考察半导体器件内部的工作和物理过程,从而帮助我们分析和理解器件的工作原理和特性,探索器件性能的改进方法。本论文应用技术...
纳米CMOS器件的新测量方法并用于可靠性的研究
论文摘要CMOS器件尺寸越来越小，栅介质厚度持续减小，负偏压温度不稳定性（NBTI）成为制约器件可靠性及寿命的最主要因素之一。然而，NBTI机理一直处于争论之中。其原因一方面源...