![JTAG控制器的设计]()
论文摘要JTAG规范是一种标准化的电路测试和可测试性设计方法,它在工业界得到了广泛的应用。JTAG规范不仅大大降低了电路板测试的成本和时间,推动了可测性设计的发展,并且为芯片内...
![基于March C+算法的MBIST设计]()
论文摘要随着现代VLSI设计技术和制造工艺的飞速发展,片上存储器容量日渐增大,特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入到片内的设计方法已经非常普遍。存储器密度不断增加,存...
![数字视频处理芯片架构设计及核心去隔行算法实现]()
论文摘要随着技术的发展和人们生活水平的提高,对高清晰、高画质的影像设备的要求也越来越高。传统的电视系统已经难以满足人们的需要。特别是随着近几年平板显示技术日益成熟,已逐渐取代传...
![系统级芯片（SoC）可测试性结构及其优化的研究]()
论文摘要随着集成电路工艺的进步和人们对集成电路性能以及上市时间要求不断提高,集成电路技术发展到了系统级芯片（System-on-Chip,SoC）。测试是SoC的关键技术之一。...
![X微处理器调试结构的设计及实现]()
论文摘要随着半导体工艺水平的提高，芯片的规模及复杂度异常庞大，其内部节点的机械可探测性大大降低，甚至不可能。这使得调试及测试的难度也大大增强，因此必须在设计中增加可调试性设计。...
![芯片设计中的可测试性设计技术]()
论文题目:芯片设计中的可测试性设计技术论文类型:硕士论文论文专业:通信与信息系统作者:张永光导师:王匡关键词:可测试性设计,可控制性,可观察性,系统芯片,测试调度,测试资源文献...
![芯片验证测试及失效分析技术研究]()
论文题目:芯片验证测试及失效分析技术研究论文类型:硕士论文论文专业:计算机系统结构作者:檀彦卓导师:李晓维关键词:验证测试,失效分析,可测试性设计,生产测试,真速测试文献来源:...
