可测性设计论文

论文摘要随着集成电路的发展,芯片结构越来越复杂,传统的测试技术已经不能满足现代集成电路的测试要求,集成电路可测性设计技术应运而生。SOC芯片的可测性设计主要难点在于设计复杂,且...

论文摘要随着深亚微米技术的不断演进,集成电路的结构和功能日益复杂,设计尺寸日益缩小,测试已成为一个越来越困难的问题,对IC设计的自动化和测试技术的要求十分强烈。设计优化从原先的...

论文摘要在集成电路高速发展的今天,许多传统形式的测试技术受到越来越多的挑战。就测试技术本身而言,其作用和地位不再是集成电路生产的末端环节,而是作为一种前端环节对整个系统的设计都...

论文摘要全扫描设计通过提升电路的可控制性和可观察性,大大降低了测试生成的复杂度,被认为是最有效的可测性设计方法之一。全扫描设计中的数据包括测试激励数据以及测试响应所对应的期待响...

论文摘要随着微电子技术和集成电路的飞速发展,电路由单一的数字电路或模拟电路逐步向具有一定功能的数模混合电路系统方向发展,给集成电路的测试带来了巨大的挑战,一种可行的方法就是内建...

论文摘要现场可编程门阵列FPGA是一种现场可编程专用集成电路,它将通用门阵列结构与现场可编程的特性结合于一体,如今,FPGA系列器件己成为最受欢迎的器件之一。随着FPGA器件的...

论文摘要3G时代的到来和大容量多媒体移动存储设备的出现,使得多媒体无线网络传输越来越热门,而这种趋势的最终形态正是多媒体移动视频接收终端。本文设计的芯片正是多媒体移动视频接收终...

论文摘要随着集成电路设计与制造工艺的飞速发展,系统集成芯片(SOC,SystemonChip)技术受到了普遍重视。与此同时,SOC的测试问题由于多种功能的模块高度集成而显得特殊...

论文摘要早期的集成电路测试主要通过功能测试向量来完成,但随着系统复杂度的不断提高和工艺技术的日益发展,芯片测试的复杂度远远超出了人们的想象。芯片的测试问题成为制约整个行业发展的...

论文摘要测试已经成了集成电路设计制造中不可分割的一部分,而且随着集成电路工艺复杂度和设计复杂度的提高,集成电路的测试变得越来越困难,也变得越来越重要。在这种情况下,可测性设计(...

论文摘要随着工艺水平的缩小和设计规模的增大,集成电路设计中的验证工作难度也在不断增加。如何能保证设计的正确性和一致性,如何才能为用户提供最方便的验证手段,这是验证工程师所面临的...

论文摘要边界扫描技术作为一种标准的数字电路测试及可测试性设计方法,它以特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,能大大提高数字电路的可测试性。随着边界扫描芯片在电...

论文摘要随着芯片规模的不断扩大,设计和制造过程中所产生的各种问题都导致芯片测试的难度和成本越来越高,传统的测试模型和测试方法显得难以胜任,测试开销急遽增加。在模拟及混合信号电路...

论文摘要高新技术在装备中的广泛应用,一方面极大地改善了装备的性能,使装备功能越来越先进;另一方面显著地增加了装备的技术和结构复杂性,使装备的测试与诊断越来越困难。经过大量的研究...

论文摘要随着集成电路工艺制造技术和IC设计能力的不断提高,对电路的测试变得越来越复杂和困难。可测性设计技术作为目前解决芯片测试问题最为有力的方法,日益受到重视。Cobra是一款...

论文摘要本文研究了算术运算电路的通路时延故障测试。半导体技术的高速发展使得电路集成度和运行速率大增,相应的时延故障测试需求也变得越来越迫切。算术运算电路包含加法器、乘法器等,在...

论文摘要随着现代科技的快速发展,数字集成电路已经被广泛应用于各行各业,于此同时数字集成电路的测试问题也就越来越受到人们的重视。数字集成电路设计、生产、应用的各个必要阶段都离不开...

论文摘要高新技术在武器装备中的广泛应用,一方面极大地改善了装备的性能,使装备功能越来越先进;另一方面显著地增加了装备的技术和结构复杂性,对装备的测试、诊断与维修提出严峻的挑战。...

论文摘要随着集成电路工艺水平不断提高，芯片的集成度也日益增长，设计复杂度随着电路复杂度的增长也在提高。因此现在半导体技术中测试变得越来越重要。而且在高层次设计中就应该考虑测试。...

论文摘要随着集成电路设计与加工技术的飞速发展，测试作为IC产业中一个极为重要的环节，变得越来越困难。特别是进入深亚微米发展阶段以来，通过集成各种IP核，系统级芯片的功能更加强大...