![电路故障诊断可测性设计及低功耗测试研究]()
论文摘要过去几十年集成电路一直按照摩尔定律发展,其每个晶体管的制造成本呈现持续下降趋势,但每个晶体管的测试成本却基本保持不变,因此随着集成度的不断提高集成电路的总测试成本始终呈...
![JX5芯片测试码的产生及故障模拟]()
论文摘要故障测试是集成电路设计流程中必不可少的环节。JX5芯片是一个全定制设计的芯片，该芯片的规模十分庞大，结构异常复杂，而且芯片整体逻辑描述包含了电路级、门级、RTL级以及存...
![DVB卫星数据接收芯片IPoD的验证和测试]()
论文摘要现代芯片的开发过程,越来越强调芯片的验证和测试工作,不仅因为验证和测试所占据的比重越来越大,而且它们面临的挑战也越来越多。本文从数字视频广播卫星数据接收芯片IPoD的开...
![通用微处理器的可测性设计及实现]()
论文摘要JX5微处理器是一款结构异常复杂的微处理器,它的内部包含有:Cache、微码ROM、指令预取部件和动态分支预测部件、指令译码部件、整数部件、多媒体部件、浮点部件、分段和...
![系统级芯片的测试与可测性设计研究]()
论文题目:系统级芯片的测试与可测性设计研究论文类型:硕士论文论文专业:电工理论与新技术作者:徐卫林导师:何怡刚,谢宏关键词:系统级芯片,可测性设计,扫描测试,内建自测试,静态电...
![SoC中部分扫描结构可测性设计技术研究]()
论文题目:SoC中部分扫描结构可测性设计技术研究论文类型:硕士论文论文专业:微电子学与固体电子学作者:谢永明导师:时龙兴关键词:部分扫描,可测性设计,内建自测试文献来源:东南大...
![确定性逻辑内建自测试技术研究]()
论文题目:确定性逻辑内建自测试技术研究论文类型:硕士论文论文专业:计算机系统结构作者:李吉导师:李晓维关键词:可测性设计,确定性,低功耗,测试向量划分文献来源:中国科学院研究生...
![低功耗内建自测试设计方法研究]()
论文题目:低功耗内建自测试设计方法研究论文类型:博士论文论文专业:微电子与固体电子学作者:李锐导师:时龙兴,陆生礼关键词:可测性设计,内建自测试,测试综合,测试功耗文献来源:东...
![DSP可测性、测试方法和平台的研究]()
论文题目:DSP可测性、测试方法和平台的研究论文类型:博士论文论文专业:通信与信息系统作者:郑德春导师:姚庆栋关键词:数字信号处理器,可测性设计,嵌入式模拟模块,指令树模型,状...
