掠出射射线荧光论文

全反射相关的X射线荧光分析技术及其应用
论文摘要基于X射线全反射现象,在常规X射线荧光分析的基础上成功研制了用于薄膜多层膜元素深度分布研究和微结构表征的掠入射X射线荧光（GI-XRF）分析系统及掠出射X射线荧光（GE...