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CMP纳米抛光液及抛光工艺相关技术研究
论文摘要集成电路发展至0.25微米工艺之后,唯一可以实现全局平坦化的化学机械抛光(CMP)已成为IC制程的关键工艺之一。更小特征尺寸工艺时代的发展对抛光液及抛光工艺应用技术提出...