内部扫描论文

系统级芯片的可测性研究与实践
论文摘要随着集成电路设计与制造工艺的飞速发展,系统集成芯片(SOC,SystemonChip)技术受到了普遍重视。与此同时,SOC的测试问题由于多种功能的模块高度集成而显得特殊...